Product description
芯片激光开封机是一款专为集成电路(IC)、芯片、LED、传感器等电子元器件设计的精密开封设备。它采用高能激光技术,可精准去除环氧树脂、硅胶、陶瓷等封装材料,暴露内部结构,适用于失效分析、质量控制、逆向工程及科研鉴定等领域。
本设备具备非接触、无应力、高精度等优势,可替代传统机械或化学开封方式,有效避免样品损伤,提升开封效率与可靠性。
失效分析:开封故障芯片,检查内部结构、焊线断裂、分层等缺陷。
逆向工程:研究竞品芯片设计、工艺及材料组成。
可靠性测试:开封后用于FIB(聚焦离子束)、SEM(扫描电镜)等进一步分析。
司法鉴定:电子证据提取,如存储芯片数据恢复前的安全开封。
高精度+高可靠性:微米级控制,确保开封过程无损伤。
智能易用:自动化软件+可视化操作,降低使用门槛。
灵活定制:可根据客户需求调整激光参数、工作台尺寸等。
专业售后支持:提供设备培训、工艺优化及长期技术服务。
Features
高精度激光控制
采用紫外/红外激光,光斑精细(微米级),支持逐层剥离,确保内部电路零损伤。
动态调焦技术,可灵活切换正焦/离焦模式,适应不同封装材料(塑料、陶瓷、金属等)。
智能自动化操作
配备高分辨率CCD摄像头+显微镜系统,实时监控开封过程,支持图像定位与自动对焦。
专业控制软件,可编程设定激光参数(功率、频率、扫描路径),实现一键式自动化开封。
广泛兼容性
适用于QFN、BGA、CSP、COB等多种封装形式,支持单颗芯片或整片晶圆开封需求。
可处理环氧树脂、硅胶、聚酰亚胺、陶瓷等不同封装材料。
安全环保
非接触式加工,无机械应力,避免化学腐蚀污染。
封闭式工作舱+抽风系统,有效处理激光产生的气体和碎屑,符合实验室安全标准。
Parameter
项目 | 参数 |
激光类型 | 紫外激光(355nm)/ 红外激光(1064nm)可选 |
激光功率 | 0-50W(可定制) |
光斑直径 | 10-50μm |
定位精度 | 0.01mm |
最大开封面积 | 110mm*110mm(可定制) |
视觉系统 | 高清CCD + 光学显微镜 |
软件控制 | Windows系统,支持路径编程、参数存储、实时监控 |
适用封装 | 塑料封装(Epoxy)、陶瓷封装、金属封装等 |
设备尺寸 | 970mm*1100mm*1800mm(可定制) |
电源要求 | AC 220V,50/60Hz |
Why
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